اختبار تجاوز الدايود الحراري Bypass diode thermal testing :
شرح مبسط :
لتقييم مدى كفاية الدايود والموثوقية النسبية طويلة المدى لثنائيات المرور الجانبية المستخدمة للحد من الآثار الضارة لقابلية الوحدة النمطية للتأثر بالنقاط الساخنة.
ملاحظة: إذا تعذر الوصول إلى الدايود في اللوح الشمسي فيمكن تحضير عينة خاصة لهذا الاختبار. يتم تصنيع هذه العينة في أقرب وقت ممكن من وحدات الإنتاج القياسية قيد الاختبار ولكن مع إمكانية قياس درجة حرارة الدايود أثناء الاختبار. يجب أن يستمر الاختبار بعد ذلك كالمعتاد. يجب استخدام عينة الاختبار الخاصة هذه فقط للاختبار الحراري للديود الجانبي وليس للاختبارات الأخرى في التسلسل.
بعد الاختبار لكي نستطيع قياس الحرارة الداخلية للدايود لابد من استخدام القانون التالي :
TJ=Tcase + RTHjc * UD *ID
حيث أن :
Tj = درجة الحرارة الداخلية للدايود .
Tcase = درجة حرارة سطح الدايود .
RTHjc = هي المقاومة الحرارة للدايود وتستطيع الحصول عليها عن طريق الداتا شيت Datasheet .
UD = الجهد على الدايود .
ID = التيار على الدايود .
الصورة : يوضح مكان TJ و Rthjc داخل الدايود
تعليقات
إرسال تعليق